Description

พื้นผิวที่เปียกชื้นทั้งหมดในเครื่องวิเคราะห์จะทำจากวัสดุที่มีความละเอียดสูงและมีความบาง เช่น วิเคราะห์ Semiconductor โดยการทดสอบอัตโนมัติสำหรับตัวอย่างที่บางหรือตัวอย่างที่มีความละเอียดสูง มักพบใน Semiconductor rหลายชนิดการใช้งาน โดยการวิเคราะห์จะใช้ทดสอบกับpolypropyleneหรือวัสดุที่ทำมาจากCPVCสีขาวในห้องที่มีความสะอาด เครื่องวิเคราะห์ CHIPChem Analyzersสำหรับ Semiconductor สามารถให้ความแม่นยำได้ เฉพาะห้องปฏิบัติการที่แม่นยำที่สุดเท่านั้น อุปกรณ์เครื่องจ่ายสารเคมีที่มีความแม่นยำของเราส่งมอบขนาดที่มีความสามารถในการทำซ้ำได้ 0.001 มิลลิลิตรใช้การวิเคราะห์กำลังวิเคราะห์เพื่อกำจัดข้อผิดพลาดที่เกิดจากการเลื่อนขั้วไฟฟ้า

Analysis of SC1(Semiconductor) Clean
ความเข้มข้นของHydrogen Peroxideจะพิจารณาจากการ redox titration คือtitration
และจุดสิ้นสุดจะถูกกำหนดด้วยelectrode ORP ความเข้มข้นของAmmonium Hydroxide
จะถูกวัดด้วยการtitrationเป็นกรด / เบส  titrant เป็นกรด sulfuricและจุดสิ้นสุดพบด้วย electrode วัดค่า pH ของแก้ว

On-Line SC1 Clean(Semiconductor)
Industry: Semiconductor
All wetted surfaces, in the analyzer are made of high purity teflon.Automated sample dilution is used for the measurement of highly concentrated samples commonly found in many Semiconductor applications. The analyzer is housed within a white polypropylene or CPVC clean room enclosure. The CHIPChem Analyzers can provide accuracy only matched by the most precise laboratory equipment. Our reagent precision pumps deliver titrants with + 0.001 mL reproducibility. Potentiometric analyses are utilized thus eliminating errors caused by electrode drift.

Analysis of SC1 (Semiconductor) Clean
The concentration of Hydrogen Peroxide is determined by a redox titration. Ceric sulfateis the titrant and the endpoint is determined with an ORP electrode. The concentration of Ammonium Hydroxide is determined by an acid/base titration. The titrant is sulfuric acid and the endpoint is found with a glass pH electrode.